[发明专利]故障记忆体模组测试方法及其装置无效
| 申请号： | 00115584.9 | 申请日： | 2000-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN1321930A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 连世雄 | 申请（专利权）人： | 连世雄 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海市华润律师事务所 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 台湾省台北市士*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是一种故障记忆体模组测试方法及其装置,由一与个人电脑的中央汇流排连接的系统控制器可将检测仪器所测试的结果直接写入记忆体模组的电子式可编程式重覆记录读取记忆体(EEPROM)内,在维修时,由一数字电路直接读取该些电子式可编程式重覆记录读取记忆体内储存的资讯,并将其转换成一般可读的资讯,可省略将测试结果资讯列印贴纸并以人工方式将其贴至故障记忆体模组及另行判读该贴纸上资讯等,充分简化测试维修流程、增进测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 故障 记忆体 模组 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1．一种故障记忆体模组测试方法，包括检测记忆体模组、故障资讯值入EEPROM等。其特征在于：所述检测记忆体模组(F002)是于确认记忆体模组(3)置于测试插槽(2)上之后，将其数据送至一缓冲区(12)，于该缓冲区(12)内与预先设定的数据相比对，以确定上述记忆体模组(3)是否故障。所述故障资讯植入EEPROM(F007)是将上述故障资讯传输并值入该记忆体模组(3)上原设有的电子式可编程式重覆记录读取记忆体(13)中未定义的空白区域，并可将该故障资讯显示于一预设的显示幕(15)上，以有效简化记忆体模组(3)的故障颗粒位置(F008)标示程序。
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