[发明专利]光栅匹配适配器的测试探针和测试印刷电路板的装置无效
| 申请号： | 00811965.1 | 申请日： | 2000-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN1371478A | 公开（公告）日： | 2002-09-25 |
| 发明（设计）人： | M·普罗考普;B·奥特 | 申请（专利权）人： | ATG试验体系两合公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 德国韦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试印刷电路板的装置的光栅匹配适配器的测试探针。所述探针的特征在于该探针包括一接触部,该接触部呈圆锥状逐渐变细,形成用于接触电路板测试点的所述探针的自由尖端。该接触部长至少15mm,其尖端处直径小于或等于0.2mm。该接触部的与接触尖端相对的末端段直径比其接触尖端直径大至少0.1mm。本发明的探针能够用于对印刷电路板上最窄的结构进行扫描。该探针比对相当结构进行扫描的已知探针更加坚固。这既简化了其处理又简化了使用探针的光栅匹配适配器的构造。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 匹配 适配器 测试 探针 印刷 电路板 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路板测试器的图案适配器的测试探针，其中所述测试探针(1)包括一用于接触电路板测试点的接触部(3)，所述接触部(3)被配置成圆锥逐渐变细到自由接触尖端(4)，所述接触部(3)的长度(L)至少为15mm，其在所述接触尖端(4)处的直径(d)小于0.2mm，所述接触部(3)的与所述接触尖端(4)相对的末端段(5)的直径(D)比所述接触尖端(4)的直径大至少0.1mm。
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