[发明专利]在非易失性存储器中存储引线校准数据的基于事件的测试系统无效
| 申请号： | 01109772.8 | 申请日： | 2001-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN1323989A | 公开（公告）日： | 2001-11-28 |
| 发明（设计）人： | 詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特;罗基特·拉尤斯曼;菅森茂 | 申请（专利权）人： | 株式会社鼎新 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种基于事件的半导体测试系统,包括多个插接板,每个插接板有多个插接单元;非易失性存储器,设置在每个插接板内,用来存储插接板上所有插接单元的有关误差因素的校准数据;以及微处理器,设置在每个插接板内,用于管理所有插接单元的校准数据以及执行校准过程;其中,每个插接单元均被配置成一个基于事件的测试器。这种测试系统能够对所有插接板的校准数据实现效费比高、无差错、简单可靠的管理。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 存储 引线 校准 数据 基于 事件 测试 系统 | ||
【主权项】：
1．一种用来测试半导体器件的半导体测试系统，具有许多测试通道，经测试通道给被测器件的器件引线提供测试模式，并检验被测器件的输出响应信号，所述的测试系统包括：多个插接板，每个插接板有多个插接单元，插接单元为测试通道的一个组成部分；非易失性存储器，设置在每个插接板内，用来存储插接板上所有插接单元的有关误差因素的校准数据；以及微处理器，设置在每个插接板内，用于管理插接板上所有插接单元的校准数据以及执行校准过程；以及其中，每个插接单元均被配置成一个基于事件的测试器，根据存储在事件存储器中的事件数据直接产生测试模式或选通信号，事件存储器确定前一个事件相对于一个时间差之后所发生的任何变化。
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