[发明专利]经由通道写入及抹除的嵌入式快闪记忆胞及其制作方法无效

专利信息
申请号: 01116165.5 申请日: 2001-05-21
公开(公告)号: CN1387260A 公开(公告)日: 2002-12-25
发明(设计)人: 徐清祥;杨青松 申请(专利权)人: 力旺电子股份有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L27/10;H01L21/82;G11C11/34
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘朝华
地址: 台湾省*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种经由通道写入及抹除的嵌入式快闪记忆胞及其制作方法,尤指一种结合CMOS装置与快闪记忆胞,主要是在基底上同时制作快闪记忆胞与CMOS装置,以降低制作成本,简化制作流程,且CMOS装置并保留有可进行高电压操作及其低电压操作,不仅有效改善快闪记忆胞与CMOS装置间的操作效率,且其整体体积比各自分开生产后结合较小。
搜索关键词: 经由 通道 写入 嵌入式 记忆 及其 制作方法
【主权项】:
1、一种经由通道写入及抹除的嵌入式快闪记忆胞,其特征在于:它包括在N型基底上设置快闪记忆胞区及CMOS装置区;该快闪记忆胞区的主要结构包含有:于基底上形成深P型井,于该深P型井上形成N型井,在该N型井内适当位置处布植有一深P型布植区及一浅P型布植区,于该N型井上堆叠闸极;该CMOS装置区的主要结构包含有:于该基底上形成第一深P型井区,于该第一深P型井区上形成一第一N型井,且在该第一N型井内适当位置处布植有多数个P型布植区;于该基底上形成第二深P型井区,于该第一深P型井区上形成第二N型井,且在该第一N型井内适当位置处布植有多数个P型布植区。
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