[发明专利]抗反射光学多层薄膜无效

专利信息
申请号: 01118612.7 申请日: 2001-06-04
公开(公告)号: CN1389346A 公开(公告)日: 2003-01-08
发明(设计)人: 朱兆杰 申请(专利权)人: 冠华科技股份有限公司
主分类号: B32B33/00 分类号: B32B33/00;G02B1/10;G02B1/11
代理公司: 隆天国际专利商标代理有限公司 代理人: 陈红,潘培坤
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种抗反射光学多层薄膜,具有五层结构,且由离基板最远的层开始算起为第一层、第二层、第三层、第四层及第五层。此多层薄膜包含材料为ITO的第一层、材料为SiO2的第二层、材料为NbO的第三层、材料为SiO2的第四层及材料为NbO的第五层。本发明的抗反射光学多层薄膜具有能屏蔽EMI的良好的导电性、可用作触摸式感测面板材料的高透明度、符合视觉效果的低反射率、抗刮伤特性及低成本。
搜索关键词: 反射 光学 多层 薄膜
【主权项】:
1.一种具有透明导电膜为最外层的抗反射光学多层薄膜,此抗反射光学多层薄膜具有五层结构且在一基板上形成,此5层结构包含由远离基板方向算起之第一层、第二层、第三层、第四层及第五层多层结构;其特征在于该第一层位于该第二层上,为具有高折射率的氧化物,其实体厚度为10-60nm;该第二层位于该第三层上,为具有低折射率的氧化物,其实体厚度为10-70nm;该第三层位于该第四层上,为具有高折射率的氧化物,其实体厚度为30-100nm;该第四层位于该第五层上,为具有低折射率的氧化物,其实体厚度为10-70nm;该第五层位于该基板上,为具有高折射率的氧化物,其实体厚度为10-60nm。
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