[发明专利]接触臂及采用该接触臂的电子零件试验装置无效
| 申请号： | 01122028.7 | 申请日： | 2001-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN1336554A | 公开（公告）日： | 2002-02-20 |
| 发明（设计）人： | 山下毅;清川敏之 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 马江立 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供使被试验IC与接触部接触的接触臂,该接触臂备有保持头、浮动机构和流体压缸。上述保持头用于保持被试验电子零件。上述浮动机构,设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间,将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上。上述流体压缸,设在上述驱动机构与上述保持头之间,调节从驱动机构对保持头的相对推压力。对一个保持头设有多个隔膜压缸。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 采用 电子零件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.电子零件试验装置用接触臂，使被试验电子零件与接触部接触，其特征在于，备有保持头、浮动机构和流体压缸；上述保持头用于保持被试验电子零件；上述浮动机构，设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间，将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上；上述流体压缸，设在上述驱动机构与上述保持头之间，调节从驱动机构对保持头的相对推压力。
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