[发明专利]具有精确定位致动器的磁头常平架组件的特性测试方法无效
| 申请号： | 01132990.4 | 申请日： | 2001-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1343970A | 公开（公告）日： | 2002-04-10 |
| 发明（设计）人： | 笠岛多闻;富田克彦;白石一雅;本田隆;和田健 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/596 | 分类号： | G11B5/596;G11B21/10;G11B5/31 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王以平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试HGA特性的方法包括通过驱动精确定位的致动器发生位移并对至少一个薄膜磁头元件进行磁道分布测量而获得此致动器位移特性的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 精确 定位 致动器 磁头 常平架 组件 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试磁头常平架组件特性的方法，该组件包括具有至少一个薄膜磁头元件的磁头浮动块、支架、以及使所述磁头浮动块相对所述支架移动以便精确定位所述至少一个薄膜磁头元件的致动器，所述方法包括通过驱动所述致动器移动并对所述至少一个薄膜磁头元件进行磁道分布测量而获得所述致动器位移特性的步骤。
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