[实用新型]电子元件检测装置无效
| 申请号： | 01278816.3 | 申请日： | 2001-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN2522868Y | 公开（公告）日： | 2002-11-27 |
| 发明（设计）人： | 张正宽 | 申请（专利权）人： | 及成企业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘领弟 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电子元件检测装置。为提供一种结构简单、价格低廉、维修保养容易、使用方便的电子元件检测装置，提出本实用新型，它包括具有导电特性的治具、测试元件、接触元件及检测电路；于治具上安装由具不导电特性的塑料本体及具导电特性的金属薄板组成的待测物；金属薄板系平贴于塑料本体底面；设置于金属薄板上的复数个弯折片系沿塑料本体的复数缺槽弯折靠合于塑料本体顶面靠近凸出部的位置上；测试元件活动设置于治具上的金属薄板弯折片及塑料本体凸出部位置上方；接触元件活动设置治具上方并邻近测试元件处及与测试元件同步移动；检测电路上设有讯号反应元件，其两电极端分别与测试元件及接触元件连接。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种电子元件检测装置，它包括具有导电特性的治具；于治具上安装由具不导电特性的塑料本体及具导电特性的金属薄板组成的待测物；金属薄板系平贴于塑料本体底面；设置于金属薄板上的复数个弯折片系沿塑料本体的复数缺槽弯折靠合于塑料本体顶面靠近凸出部的位置上；其特征在于所述的设置于治具上的金属薄板弯折片及塑料本体凸出部位置上方活动设置有测试元件；治具上方邻近测试元件处活动设置有与测试元件同步移动的接触元件；测试元件及接触元件之间接设有以两电极端与其连接的检测电路；于检测电路上设有讯号反应元件。
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