[发明专利]射线检验设备和射线检验方法无效
| 申请号： | 02105676.5 | 申请日： | 2002-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN1381717A | 公开（公告）日： | 2002-11-27 |
| 发明（设计）人： | 泽田良一 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临,王志森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种射线检验设备计算从射线探测器(3)输出的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差。然后,该设备通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级数据在灰度等级轮廓的预定灰度等级范围从XL到XH内的像素的数量、获得被检对象WA的总周边长度。由此,该设备根据该对象的总周边长度的值确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检验 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射线检验设备，包括：射线生成器，用于生成射向被检对象的射线；射线探测器，以面对所述射线生成器的方式设置，用于检测透过被检对象的射线，并输出构成被检对象的图像的每一个像素的像素数据；以及数据处理单元，用于使用从所述射线探测器输出的像素数据，执行数据处理，其中所述数据处理单元计算从所述射线探测器输出的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差，并通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级数据在预定灰度等级范围内的像素的数量、获得被检对象的总周边长度，以及根据该对象的总周边长度确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所，未经株式会社岛津制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/02105676.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种玩具人
- 下一篇：精密电子元件用粘合片
