[发明专利]检测光盘坏损区的方法无效
| 申请号： | 02106000.2 | 申请日： | 2002-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN1380656A | 公开（公告）日： | 2002-11-20 |
| 发明（设计）人： | 崔永道;房极英;晋哲 | 申请（专利权）人： | 日立－LG数据存储韩国公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 张天舒,袁炳泽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及在可写光盘上记录数据时无错地检测坏损区的方法。此方法检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平,根据检测到的电平检查伺服错误信号是否处于异常状态,检测周期性的颤动信号或记录操作中产生的伺服错误信号异常状态发生的周期性,若伺服错误信号处于异常状态,则根据检测到的周期性颤动信号的成功解码或者异常状态出现的周期性来确定记录区是否坏损。该方法确保了坏损区的准确检测,由此可消除不必要的降速,并保证即使在坏损区也能成功写入数据。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 光盘 坏损区 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测可写光盘坏损区的方法，包括以下步骤：(a)检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平；(b)根据检测的电平检查伺服错误信号是否异常；(c)检测记录操作中产生的周期性信号；以及(d)根据检查结果和检测到的周期性信号确定记录区是否坏损。
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