[发明专利]半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的设计方法无效
| 申请号： | 02123025.0 | 申请日： | 2002-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN1391351A | 公开（公告）日： | 2003-01-15 |
| 发明（设计）人： | 杉本有一郎 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H03K19/20 | 分类号： | H03K19/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘宗杰,王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 包括具有输入信号及输出信号的非扫描块1和输入非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号6输出的选择器2。控制选择器，使其在进行扫描测试时选择非扫描块的输入信号4，在不进行扫描测试时选择非扫描块的输出信号。在扫描测试时，可以控制扫描块的输入信号，从而可以观测输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 装置 设计 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体集成电路装置，包含在故障诊断中适用于非扫描测试方法的块(以下称非扫描块)和在故障诊断中适用于扫描测试方法的块(以下称扫描块)，其特征在于：包括具有输入信号及输出信号的上述非扫描块和输入上述非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器，控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述非扫描块的输入信号，在不进行扫描测试时选择上述非扫描块的输出信号。
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