[发明专利]深UV用光致抗蚀剂组合物及其方法无效

专利信息
申请号: 200580039939.8 申请日: 2005-11-21
公开(公告)号: CN101061434A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: F·M·胡里汉;R·R·达米尔;A·R·罗马诺;M·帕德马纳班;D·M·拉曼 申请(专利权)人: AZ电子材料美国公司
主分类号: G03F7/039 分类号: G03F7/039;C08F290/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王健
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及新型化学放大的光致抗蚀剂,其对300nm-100nm的波长敏感,并且包含:a)包含从聚合物骨架悬吊下的砜基团的新型聚合物,该聚合物不溶于碱性水溶液并且包含至少一个被酸不稳定基团保护的酸性结构部分,和b)在辐射下能够产生酸的化合物。本发明还涉及新型正性光致抗蚀剂组合物的成像方法。
搜索关键词: uv 用光 致抗蚀剂 组合 及其 方法
【主权项】:
1.光致抗蚀剂组合物,包含:光酸产生剂和包含至少一个由结构1描述的单元的聚合物,其中,A是非芳族聚合物骨架;W是单键或非芳族连接基;m=0-10;R4和R5独立地是氢、(C1-C18)烷基、SO2R7、C(O)R7、(CH2)nSO2R7、(CH2)nCOR7、(CH2)nOR7、CO2(CH2)nCO2R7、O(CH2)nCO2R7、(CH2)nCO2R7、被酸不稳定基团保护的酸性结构部分,R4和R5连接起来形成未取代或取代的烷基环状结构,R4和R5连接起来形成未取代或取代的其内部包含砜、醚、羰基、羧基和其它杂性结构部分的烷基环状结构,其中R7选自(CH2)nCN,氢,(C1-C18)线性、支化或环状烷基,和被酸不稳定基团保护的酸性结构部分;R6独立地是(C1-C18)线性、支化或环状烷基,酸不稳定基团,(CH2)nSO2R7,(CH2)nCOR7,(CH2)nOR7,(CH2)nCO2R7,其中R7选自(CH2)nCN,氢,(C1-C18)线性、支化或环状烷基,和酸不稳定基团;和,任选地,R5和R6连接起来形成未取代或取代的含砜基团的环状烷基单元;和n=1-18。
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