[发明专利]集成电路自测试结构无效
| 申请号： | 200580040539.9 | 申请日： | 2005-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN101065680A | 公开（公告）日： | 2007-10-31 |
| 发明（设计）人： | 马塞尔·佩尔戈姆;亨德里克斯·J·M·维恩德里克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/3167 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成电路(1)，包括：监测器(M1、M2、M3)，可操作用于依赖于所述集成电路(1)的已测量参数来产生监测数据；以及连接的自测试控制器，用于从所述监测器(M1、M2、M3)接收监测数据。所述自测试控制器还可以操作用于从所述集成电路输出自测试数据。所述监测器包括输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)，并且可操作用于通过所述移位寄存器(SR1、SR2、SR3)输出监测数据。这样的系统使集成电路上的系统自测试结果的简化通信成为可能。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 结构 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路(1)，包括：-监测器(M1、M2、M3)，可操作用于依赖于所述集成电路(1)的已测量参数来产生监测数据；以及-连接的自测试控制器(28)，用于从所述监测器(M1、M2、M3)接收监测数据，并且可操作用于从所述集成电路输出自测试数据，其特征在于：所述监测器包括输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)，并且可操作用于通过所述移位寄存器(SR1、SR2、SR3)输出监测数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200580040539.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：半导体设备及其清洁单元
- 下一篇：高效等离子逆变器
