[发明专利]具有测试电路的随机存取存储器无效
| 申请号： | 200580042833.3 | 申请日： | 2005-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN101080778A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | W·霍肯梅尔 | 申请（专利权）人： | 奇梦达股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余刚;李丙林 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种存储电路，包括：存储器及与该存储器连接的第一测试电路。第一测试电路配置成：将从存储单元中读出的数据与所述存储单元的预期数据进行比较以产生存储单元的第一组通过/未过信号；将所述存储器的第一组通过/未过信号压缩成第二通过/未过信号；响应数据有效信号而锁存第二通过/未过信号；若第二通过/未过信号指示故障检测，则保持第二通过/未过信号之锁存；将第二通过/未过信号与第二测试电路的第三通过/未过信号组合而形成第四通过/未过信号，并将第四通过/未过信号传到第三测试电路。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 电路 随机存取存储器 | ||
【主权项】：
1.一种存储电路，包括：-存储器；以及-与所述存储器连接的第一测试电路，第一测试电路配置成：--将从存储单元中读出的数据与所述存储单元的预期数据进行比较，以产生所述存储单元的第一组通过/未过信号；--将所述存储单元的第一组通过/未过信号压缩成第二通过/未过信号；--响应数据有效信号而锁存第二通过/未过信号；--若第二通过/未过信号指示测试未过，则将第二通过/未过信号的锁存保持；--将第二通过/未过信号与第二测试电路的第三通过/未过信号组合而产生第四通过/未过信号；以及--将第四通过/未过信号传到第三测试电路。
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