[发明专利]用于测试RFID器件的方法和系统有效
| 申请号： | 200580046973.8 | 申请日： | 2005-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN101103361A | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | D·J·普利斯顿;B·J·金斯顿;I·J·福斯特 | 申请（专利权）人： | 艾利丹尼森公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件的方法和系统。在一个具体实施例中，RFID器件沿载体的长度方向均匀地间隔排列，所述系统包括短距离测试器，长距离测试器和计算机，所述短距离测试器连接到计算机并具有短距离测试位置，所述长距离测试器连接到计算机并具有长距离测试位置。长距离测试位置位于短距离测试位置下游，与其间隔一定数量设备位置。在使用中，所关心的RFID器件首先被定位在短距离测试位置，并且短距离测试器读取RFID器件的唯一标识符并将该标识符传送到计算机。然后载体被向前推进以使后续的RFID器件由短距离测试器读取。当所关心的RFID器件推进到所述长距离测试位置时，长距离测试器进行性能测试并将任何探测到的结果发送给计算机。因为两个测试位置之间的距离是已知的，计算机知道何时所关心的RFID器件位于长距离测试位置，并使用标识符区别该设备的结果和任何其它设备的结果。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 rfid 器件 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试紧密间隔排列地在一起的多个RFID器件中的至少一个的系统，所述系统包括：(a)短距离测试器，其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符；(b)第一长距离测试器，其用于测试定位在第一长距离测试位置的RFID器件，所述第一长距离测试器位置间隔离开所述短距离测试位置一预先确定的距离；(c)移动装置，其用于将RFID器件从所述短距离测试位置和所述第一长距离测位置中的一个移动到另一个；以及(d)区别装置，其用于区别定位在所述第一长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾利丹尼森公司，未经艾利丹尼森公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200580046973.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：针对显示子系统的基于工作的时钟管理
- 下一篇：用于存储和分配包装件的设备
