[发明专利]电连接器综合检测控制装置设计方法有效

专利信息
申请号: 200610066468.6 申请日: 2006-04-03
公开(公告)号: CN101051067A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 刘越 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 代理人: 岳洁菱
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种电连接器综合检测控制装置设计方法,按照该方法设计的装置能够将电连接器的绝缘电阻参数、介质耐压参数、导通性统一控制测试,并通过制作不同接口的专用测试电缆(5)以实现对各种电连接器的测试控制。专用测试电缆将被测电连接器的测试点分为一至四组测试点插头并与主机对应插接。将绝缘电阻测试仪、介质耐压测试仪和直流电源正极接入主机后,通过操作主机上的波段开关(15)和转换开关(16),即可对所有测试点进行测试。该装置具有通用性强、安全性强、测试效率高等优点。
搜索关键词: 连接器 综合 检测 控制 装置 设计 方法
【主权项】:
1.一种电连接器综合检测控制装置设计方法,其特征是:由该方法设计的电连接器综合检测控制装置由主机(4)和专用测试电缆(5)组成,专用测试电缆(5)的两端各有一个接口,其中一个接口(6)是一个能与被测电连接器完全紧密插接的电连接器,将该电连接器的接触点分为三组测试点,确定任意一个接触点编为第一组的测试点,与它相临且最近的任意一个接触点编为第二组的测试点,将距第一组测试点和与其相邻的第二组测试点都相临且最近的接触点编为第三组测试点,将距第一组测试点和与其相邻的第三组测试点都相临且最近的接触点编为第二组的测试点,将距第二组测试点和与其相邻的第三组测试点都相临且最近的接触点编为第一组的测试点,以此类推,向外围扩散式编号,直至将所有接触点都分到各组,将外壳分为第四组测试点,若外壳为绝缘体则不需要第四组测试点,所有的电连接器接触点的分组方式与上述大致相同,专用测试电缆的另一个接口为将这四组测试点的尾线,无尾线则在尾部通过导线,与接线柱插头压接,构成四个接线柱插头;主机是由外壳(1),前面板(2),后面板(3),双刀三层四位波段开关(15),专用测试电缆(5)的第一组测试点的插座(11)、第二组测试点的插座(12)、第三组测试点的插座(13)至第四组测试点的插座(14),绝缘电阻测试仪正极插座(18)、绝缘电阻测试仪负极插座(19),介质耐压测试仪正向插座(20)、介质耐压测试仪反向插座(21),外接电源插座,指示装置(17)和转换开关(16)组成,其中双刀三层四位波段开关(15)共有三层,每一层之间彼此绝缘,每一层有两组且彼此绝缘,每一组各有一个常闭点和四个波段点,可将每组最靠近常闭点的波段点设为一号波段点,其次为二号波段点,其它设定亦可,双刀三层四位波段开关(15)的焊接分为三层;第一层:第一组测试点插座(7)通过导线与第一组的常闭点(23)焊接,第二组测试点插座(8)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的正极插座(18)与第一组的一号波段点(25)焊接,绝缘电阻测试仪负极插座(19)与第二组的一号波段点(29)焊接,将介质耐电压测试仪的正向插座(20)与第一组的三号波段点(28)焊接,介质耐电压测试仪反向插座(21)与第二组的三号波段点(31)焊接;第二层:第三组测试点插座(13)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的负极插座(19)与第二组的一号波段点(29)焊接,将介质耐电压测试仪的反向插座(21)与第二组的三号波段点(31)焊接;第三层:第二组测试点插座(12)通过导线与第一组的常闭点(23)焊接,第三组测试点插座(13)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的正极插座(18)与第一组的二号波段点(26)焊接,绝缘电阻测试仪负极插座(19)与第二组的二号波段点(30)焊接,将介质耐电压测试仪的正向插座(20)与第一组的四号波段点(20)焊接,介质耐电压测试仪反向插座(21)与第二组的四号波段点(32)焊接;第四组测试点插座(14)与绝缘电阻测试仪的负极插座(19)和介质耐压仪的反向插座(21)焊接;该装置中专用测试电缆(5)测试点第一组插座(11)、测试点第二组插座(12)至测试点第三组插座(13)、能够将三路信号合为一路信号的转换开关(16)、指示装置(17)、电源插座通过导线依次串联、焊接,指示装置(17)、波段开关(15)和转换开关(16)分别与前面板(2)螺钉固定,将绝缘电阻测试仪正极插座(18)、绝缘电阻测试仪负极插座(19),介质耐电压测试仪正向插座(20)、介质耐电压测试仪反向插座(21),电源插座分别与后面板(3)螺钉固定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天科工防御技术研究试验中心,未经航天科工防御技术研究试验中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610066468.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top