[发明专利]提高SOC芯片测试效率的方法无效
| 申请号： | 200610119034.8 | 申请日： | 2006-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN101196553A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 谢晋春;陈凯华;陈婷;辛吉升;桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高SOC芯片测试效率的方法，对SOC进行量产测试时，把多个项目的测试结果存储在芯片中，在一定的时间内输出最终测试结果。本发明能够直观的显示出测试的结果，节省测试时间。输出的测试结果，不必采用复杂的测试向量进行比对，减少了数据处理的时间，开发的测试程序也不复杂，解决了目前现有技术中对SOC芯片量产测试所存在的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 soc 芯片 测试 效率 方法 | ||
【主权项】：
1.一种提高SOC芯片测试效率的方法，其特征在于：对SOC进行量产测试时，把多个项目的测试结果存储在芯片中，在一定的时间内输出最终测试结果。
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