[发明专利]异步芯片同测装置及方法无效
| 申请号： | 200610119390.X | 申请日： | 2006-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN101201383A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 辛吉升;桑浚之;陈凯华;谢晋春;陈婷 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/303;G01R31/319;H01L21/66;G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种异步芯片同测装置及方法，在异步电路芯片设计中配置一专用电路，将异步信号存储在异步响应放置区寄存器模块中，专用CPU接受到信号输送出的专用指令后通过输出模块输出同步后的信号。本发明在有限的同测能力条件下提高测试效率，同时降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 异步 芯片 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种异步芯片同测装置，其特征在于：包括一专用电路，所述专用电路由一专用CPU、一异步响应放置区寄存器模块和一输出模块组成，所述专用CPU接受来自外部的异步信号，并将所述异步信号传输到所述异步响应放置区寄存器模块，所述输出模块与专用CPU相连或与异步响应放置区寄存器模块相连。
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