[发明专利]NVM芯片测试系统及测试方法无效
| 申请号： | 200610119559.1 | 申请日： | 2006-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN101202117A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 陈凯华;谢晋春;陈婷;桑浚之;辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种NVM芯片测试系统，包括依次连接并进行信号传输的测试仪、选通测试通道的多通道选择控制器以及探针台。本发明还公开一种NVM芯片测试方法，包括以下步骤：选择测试通道；连接测试通道和探针；修改自动分配测试资源的文件，使测试仪和探针台自动通讯；进行芯片测试流程一，判断芯片的正常或异常；根据芯片正常或异常决定需要断开的通道；顺序闭合多通道选择器上的通道；选通特定的对象芯片，将测试结果写入芯片；生成芯片测试结果分类信息并保存；读取芯片测试结果分类信息，确认测试结果；进行测试流程二；确定芯片是否正常。本发明可以最大限度的利用测试通道，提高同测数目，缩短测试时间，加快产品的产出速度。 | ||
| 搜索关键词： | nvm 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种NVM芯片测试系统，其特征在于，包括依次连接并进行信号传输的测试仪、选通测试通道的多通道选择控制器以及探针台。
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