[发明专利]制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架及织构分析

摘要

本发明提供了一种用于织构测试分析中制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，主要由“T”字形基准架，与基准架上的直杆相配合的滑块，以及与滑块和基准架上的端头相配合并产生压力的紧固件所组成。同时还公开了一种利用试样架对立方系大晶粒薄板材料进行织构测试分析的方法，以大晶粒薄板材料取向分析为目标，采用组合试样法将薄钢板叠加制备试样，利用X光衍射仪对制备出的试样的轧向所组成的面进行三张不完整极图测量，选择“二步法”对不完整极图数据进行计算斜面坐标架下试样ODF系数W_lpm′，并转换成轧制坐标架下的W_lmn，最后合成ODF。在对大晶粒材料的织构进行测试时，则可测量40至70倍的晶粒数，实现了大晶粒材料织构测试分析的准确快捷，使测量的统计性得以保证。可应用于实际生产中性能及工艺优劣的判断。

主权项

1.一种用于织构测试分析中制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于由“T”字形基准架，与基准架上的直杆(2)相配合的滑块(1)，以及与滑块(1)和基准架上的端头(3)相配合并产生压力的紧固件所组成；滑块(1)与基准架上的直杆(2)和端头(3)之间至少形成一个凹槽，在凹槽内部滑块(1)上的平面和端头(3)上的平面(5)互相平行，并且与直杆(2)上的平面成60°～85°夹角；在凹槽上部滑块(1)和端头(3)上的平面在同一平面上，并与凹槽内直杆(2)上的平面平行。