[发明专利]动态随机存取存储器的位线预充电压产生器有效
申请号: | 200610136152.X | 申请日: | 2006-10-13 |
公开(公告)号: | CN101162606A | 公开(公告)日: | 2008-04-16 |
发明(设计)人: | 张健怡 | 申请(专利权)人: | 晶豪科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/4074 | 分类号: | G11C11/4074 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临;王志森 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种DRAM位线预充电压产生器,其包含:第一放大器,其具有第一电流源且比较第一电压与预充电压以控制第一PMOS晶体管、第二放大器,其具有第二电流源且比较第二电压与该预充电压以控制第二PMOS晶体管、第三放大器,其具有第三电流源且比较第三电压与该预充电压以控制第一NMOS晶体管、及第四放大器,其具有第四电流源且比较该第一电压与该预充电压以控制第二NMOS晶体管。该预充电压是自连接于该第二PMOS晶体管与该第一NMOS晶体管之间的输出节点而反馈。 | ||
搜索关键词: | 动态 随机存取存储器 位线预 充电 压产 | ||
【主权项】:
1.一种DRAM位线预充电压产生器,其包含:第一放大器,其比较第一电压与预充电压以控制耦接至供应电压源的第一PMOS晶体管;第二放大器,其比较第二电压与该预充电压以控制耦接至该第一PMOS晶体管的第二PMOS晶体管;第三放大器,其比较第三电压与该预充电压以控制耦接至该第二PMOS晶体管的第一NMOS晶体管;及第四放大器,其比较第一电压与该预充电压以控制耦接至该第一NMOS晶体管及接地电压源的第二NMOS晶体管;其中,该预充电压是获取自连接于该第二PMOS晶体管与该第一NMOS晶体管之间的输出节点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶豪科技股份有限公司,未经晶豪科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610136152.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:外开把手开启装置
- 下一篇:等离子模组散热板及支架固定装置