[发明专利]动态随机存取存储器的位线预充电压产生器有效

专利信息
申请号: 200610136152.X 申请日: 2006-10-13
公开(公告)号: CN101162606A 公开(公告)日: 2008-04-16
发明(设计)人: 张健怡 申请(专利权)人: 晶豪科技股份有限公司
主分类号: G11C11/4074 分类号: G11C11/4074
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临;王志森
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种DRAM位线预充电压产生器,其包含:第一放大器,其具有第一电流源且比较第一电压与预充电压以控制第一PMOS晶体管、第二放大器,其具有第二电流源且比较第二电压与该预充电压以控制第二PMOS晶体管、第三放大器,其具有第三电流源且比较第三电压与该预充电压以控制第一NMOS晶体管、及第四放大器,其具有第四电流源且比较该第一电压与该预充电压以控制第二NMOS晶体管。该预充电压是自连接于该第二PMOS晶体管与该第一NMOS晶体管之间的输出节点而反馈。
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 位线预 充电 压产
【主权项】:
1.一种DRAM位线预充电压产生器,其包含:第一放大器,其比较第一电压与预充电压以控制耦接至供应电压源的第一PMOS晶体管;第二放大器,其比较第二电压与该预充电压以控制耦接至该第一PMOS晶体管的第二PMOS晶体管;第三放大器,其比较第三电压与该预充电压以控制耦接至该第二PMOS晶体管的第一NMOS晶体管;及第四放大器,其比较第一电压与该预充电压以控制耦接至该第一NMOS晶体管及接地电压源的第二NMOS晶体管;其中,该预充电压是获取自连接于该第二PMOS晶体管与该第一NMOS晶体管之间的输出节点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶豪科技股份有限公司,未经晶豪科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610136152.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top