[发明专利]无线数据卡辐射杂散频点测试方法无效
| 申请号： | 200610149918.8 | 申请日： | 2006-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN101165498A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李成恩;王卫中;张亮;刘卫刚;李广峰;郭绪斌 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 张岱 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法。现有的无线数据卡辐射杂散频点测试过程中，工程师往往要长时间占用微波暗室一边调试一边测试，对数据卡制造厂家而言其过程耗时长，效率低，费用高。为解决上述问题，本发明包括以下步骤：(1)将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；(2)用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；(3)用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；(4)所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。本发明可用普通屏蔽室替代微波暗室，节约了费用，缩短了产品开发周期。 | ||
| 搜索关键词： | 无线数据 辐射 杂散频点 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种无线数据卡辐射杂散频点测试方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)将插有待测数据卡的笔记本电脑放入屏蔽室中，启动待测数据卡；(2)用一综合测试仪与所述待测数据卡建立通信连接；(3)用频谱分析仪连接一近场电波接受小探头，所述近场电波接受小探头紧贴待测数据卡放置；(4)所述频谱分析仪通过近场电波接受小探头接收待测数据卡的辐射杂散能量。
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