[实用新型]试片研磨工具无效
申请号: | 200620164752.2 | 申请日: | 2006-12-27 |
公开(公告)号: | CN200995364Y | 公开(公告)日: | 2007-12-26 |
发明(设计)人: | 石东益 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | B24D17/00 | 分类号: | B24D17/00;H01L21/304;B24B29/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种试片研磨工具,适于将一试片定位在一研磨垫上。试片研磨工具包括一主体,其具有一接合面及多个凸柱。接合面适于让试片接合,以使试片的欲研磨处适于接触研磨垫。这些凸柱适于接触研磨垫,以将主体支撑于研磨垫上方。在藉由研磨垫来移除试片的欲磨除部分以后,可通过一观测设备来观测试片的表面或剖面。 | ||
搜索关键词: | 试片 研磨 工具 | ||
【主权项】:
1.一种试片研磨工具,其特征在于,适于将试片定位在研磨垫上,该试片研磨工具包括:主体,具有接合面及多个凸柱,其中该接合面适于让该试片接合其上,以使该试片的欲研磨处适于接触该研磨垫,而该些凸柱适于接触该研磨垫,以将该主体支撑于该研磨垫上方。
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