[发明专利]具有镀金属连接部的半导体封装有效

专利信息
申请号: 200680003302.8 申请日: 2006-02-10
公开(公告)号: CN101228625A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 罗礼雄;刘凯;孙明;张晓天 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/02 分类号: H01L23/02;H01L23/48;H01L21/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张静洁
地址: 百慕大*** 国省代码: 百慕大群岛;BM
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摘要: 发明是提供一种半导体封装架构及其方法,此半导体封装结构是具有一顶表面与一黏结表面,在此之间包含有一芯片、一导电连接材、一镀金属材以及一绝缘材,其中,此芯片具有一表面,其是经过处理且设置于面对上述黏结表面的位置,在此经过处理的表面上是形成有一裸金属连接部,且导电连接材形成在此裸金属连接部上,而镀金属材则是与导电连接材相互连接,同时,绝缘材包覆在导电连接材外,镀金属材则是延伸至外部的绝缘材上。
搜索关键词: 具有 镀金 连接 半导体 封装
【主权项】:
1.一种半导体封装,其特征在于,其是具有一顶表面与一黏结表面,该半导体封装是包括:一芯片,其是具有一经过处理的表面,该经过处理的表面是与该黏结表面相对,并以一裸金属连接部相互连接;一导电连接材,其是形成于该裸金属连接部上;一镀金属材,其是与该导电连接材连接;以及一绝缘材,其是具有一突出部以包围该导电连接材的周围,且该镀金属材是延伸至该绝缘材的该突出部。
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