[发明专利]膜检查装置和膜检查方法无效
申请号: | 200680021931.3 | 申请日: | 2006-06-20 |
公开(公告)号: | CN101198859A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 上原修;堀克弘;船崎浩司 | 申请(专利权)人: | 郡是株式会社 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;G01B11/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 吴丽丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 解决问题:本发明提供检查在膜的制造时发生的缺陷点,并可有效地利用检查后的数据的检查装置和检查方法。解决方法:膜检查装置(10)具备:具有光源和多个受光部排列成的传感器,且用来扫描膜的照相机(12);将扫描所得到的电荷信号变换为电压信号并根据电压信号分析膜的不良部分的分析单元(14);存储用于区别膜的不良部分的大小的多个大小阈值的存储单元(16);以及将所分析的电压信号与多个大小阈值进行比较,求出电压信号与哪个大小阈值相一致的比较器(18)。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检查膜的不良的膜检查装置,其特征在于,包含:照相机,具有发出透过上述膜的光的光源和多个受光部排列成的传感器,用该传感器扫描上述膜;将用上述传感器扫描所得到的电荷信号变换为电压信号并从该电压信号分析膜的不良部分的单元;存储用于从上述电压信号区别膜的不良部分的大小的多个大小阈值的单元;以及将所分析的上述电压信号与上述多个大小阈值进行比较,求出该电压信号与哪个大小阈值相一致的单元。
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