[发明专利]溅射靶、低电阻率透明导电膜、该膜的制备方法及用于该方法的组合物无效
申请号: | 200680036302.8 | 申请日: | 2006-09-25 |
公开(公告)号: | CN101277910A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
发明(设计)人: | P·库马;G·沃汀;R·R·吴 | 申请(专利权)人: | H.C.施塔克公司;H.C.施塔克制陶业有限两合公司 |
主分类号: | C04B35/01 | 分类号: | C04B35/01;C04B35/457;C04B35/453;C04B35/117;C04B35/495;C23C14/08 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沙永生 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种主要由以下组分组成的组合物:a)约0.1-60摩尔%的MoO2,b)约0-99.9摩尔%的In2O3,c)约0-99.9摩尔%的SnO2,d)约0-99.9摩尔%的ZnO,e)约0-99.9摩尔%的Al2O3,f)约0-99.9摩尔%的Ga2O3,其中组分b)-f)之和约为40-99.9摩尔%,其中所述摩尔百分数是基于产品的总量为基准计,所述组分a)-e)之和为100。本发明还涉及该组合物的煅烧产品,由所述煅烧产品制得的溅射靶和由所述组合物制得的透明导电膜。 | ||
搜索关键词: | 溅射 电阻率 透明 导电 制备 方法 用于 组合 | ||
【主权项】:
1.一种主要由以下组分组成的组合物:a)约0.1-60摩尔%的MoO2,b)约0-99.9摩尔%的In2O3,c)约0-99.9摩尔%的SnO2,d)约0-99.9摩尔%的ZnO,e)约0-99.9摩尔%的Al2O3,f)约0-99.9摩尔%的Ga2O3,其中组分b)-f)之和约为40-99.9摩尔%,其中所述摩尔百分数是以产品的总量为基准计,所述组分a)-e)之和为100。
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