[发明专利]半导体处理装置以及方法无效
申请号: | 200680038202.9 | 申请日: | 2006-10-13 |
公开(公告)号: | CN101288153A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
发明(设计)人: | 松泽贵仁 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/66 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;陈立航 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 半导体处理装置具备检查半导体装置的测试器、显示部(25)、控制部(21)、IC标签读出器(29)及存储赋予各操作员的权限的辅助存储部(23)。控制部(21)用IC标签读出器(29)从已接近的操作员所持的IC标签中读取ID。然后,控制部(21)参照辅助存储部(23)根据所读取的ID来辨别该操作员的权限。并且,控制部(21)在辨别的权限范围内合成可输入指示以及可参照处理状况的操作画面,显示在显示部(25)中。当操作员从装置离开而不能读取ID时,控制部(21)启动屏幕保护来隐藏显示。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理装置,其特征在于,具备:半导体处理部,其对半导体装置进行处理;显示部,其具备显示画面并对图像进行显示;显示控制部,其使上述显示部显示用于对上述半导体处理部输入指示的指示输入画面以及/或者对上述半导体处理部的处理状况进行显示的处理状况显示画面;识别信息读取部,其非接触地读取存储在操作员所持的存储装置中的识别信息;以及权限存储部,其存储对赋予操作员的权限进行规定的权限规定信息,上述显示控制部具备:权限辨别部,其根据存储在上述权限存储部中的权限规定信息,辨别对由上述识别信息读取部读取的识别信息所确定的操作员赋予的权限;以及显示限制部,其在由该权限辨别部辨别的权限的范围内,生成操作员可以对上述半导体处理部输入指示以及/或者可以参照上述半导体处理部的处理状况的操作画面,并显示在上述显示部中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680038202.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:制备在两侧涂覆催化剂的膜的方法
- 下一篇:用于萃取桦木酸的改良方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造