[发明专利]存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200710001923.9 | 申请日： | 2007-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN101226777A | 公开（公告）日： | 2008-07-23 |
| 发明（设计）人： | 孔繁生 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提出一种存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法，该存储装置包括一个待测存储器、一个减少测试针脚装置、以及一个自我测试器。此减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出该待测存储器的一错误地址。而此自我测试器用于在高熔丝后(post－fuse)测试阶段检验该待测存储器是否发生错误。使用本发明的存储装置可快速找出待测存储器中有问题的存储单元的位置，以利高熔丝阶段时进行修复。此外本发明具有减少测试存储器时所需的测试针脚的特性，因此可降低测试设备的成本与增进存储器测试的效能。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 减少 测试 针脚 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储装置，其特征在于，所述存储装置包括：一待测存储器；一减少测试针脚装置，所述减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出所述待测存储器的一错误地址，所述减少测试针脚装置包含有：一解多任务器，控制所述待测存储器的多个输入端，用以输入一测试数据；以及一验证器，耦接所述待测存储器的多个输出端，用以验证所述待测存储器的一输出结果；以及一自我测试器，用于在高熔丝后测试阶段检验所述待测存储器是否发生错误。
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