[发明专利]一种IC全自动检测编带方法及其全自动托盘式检测编带机

摘要

本发明公开了一种IC全自动检测编带方法及其全自动托盘式检测编带机。它包括托盘输送装置、编带封装装置、废料收集装置、PC控制系统和电气控制系统，以及设置在托盘输送装置前端的托盘分离装置和后端的空托盘收集装置，编带封装装置的编带流导与托盘输送装置的托盘输送方向垂直，所述托盘输送装置的输送范围内依次设有检测IC的正面扫描装置和反面扫描装置以及将从托盘抓取IC的抓放装置，所述抓放装置为与PC控制系统及电气控制系统电连接、根据正面扫描装置和反面扫描装置的检测结果对IC分类、使合格的IC送至编带封装装置、不合格的IC送至废料收集装置的分类抓放装置。本发明具有扫描检测准确可靠，编带封装速度快，综合成本低，生产效率高的优点。

主权项

1. 一种IC全自动检测编带方法，其特征在于包括以下的工艺步骤：1)：将装有IC的托盘放入托盘分离装置；2)：由托盘分离装置将托盘按由下至上的先后顺序单盘分离，并放置在托盘输送装置上；3)：正面扫描装置和反面扫描装置对托盘输送装置上同一托盘中的IC进行正面和反面以及四个侧面的三维外观形态扫描，并记录扫描结果；4)：分类抓放装置根据步骤3)中记录的扫描结果对IC进行分类抓放，合格品送至编带封装装置，不合格品送至废料收集装置；5)：编带封装装置自动对IC进行封装，并将封装完成的成品编带收卷。