[发明专利]老化测试基板无效
| 申请号： | 200710044557.5 | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101359020A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | 覃碨珺;刘云海;简维廷;马瑾怡 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 2012*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对芯片使用板上芯片封装技术的老化测试基板。本发明的老化测试基板，包括一框架，其中，所述的框架上具有数个均匀排列的边缘连接器。采用本发明的老化测试基板实现支持多种芯片的老化测试，而且简化老化测试基板的设计、布局和制造流程。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 | ||
【主权项】：
1、一种老化测试基板，包括一框架，其特征在于：所述的框架上具有数个均匀排列的边缘连接器。
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