[发明专利]一种光刻胶清洗剂有效
申请号: | 200710045210.2 | 申请日: | 2007-08-23 |
公开(公告)号: | CN101373340A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 史永涛;彭洪修;曹惠英;刘兵;曾浩 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | G03F7/42 | 分类号: | G03F7/42;C11D7/34;C11D7/06;C11D7/26 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203上海市浦东新区张江高科*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种光刻胶清洗剂,其含有:季铵氢氧化物、聚羧酸类缓蚀剂、芳基醇和/或其衍生物、二甲基亚砜和水。本发明的光刻胶清洗剂可有效除去金属、金属合金或电介质基材上的光刻胶(光阻)和其它刻蚀残留物,同时对铝和铜等金属以及二氧化硅等非金属材料具有很低的腐蚀性,在半导体晶片清洗等微电子领域具有良好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 光刻 洗剂 | ||
【主权项】:
1.一种光刻胶清洗剂,其特征在于含有:季铵氢氧化物、聚羧酸类缓蚀剂、芳基醇和/或其衍生物、二甲基亚砜和水。
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