[发明专利]防电磁辐射眼镜屏蔽效能的测试方法及实现该方法的装置无效
申请号: | 200710047646.5 | 申请日: | 2007-10-30 |
公开(公告)号: | CN101424719A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 黎国栋;许涛芳 | 申请(专利权)人: | 上海翰纳森制衣有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R29/10;G01M11/00 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 朱妙春 |
地址: | 200070上海市闸*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用远场法测量涂有防电磁辐射的涂料的电磁屏蔽效能的测试方法,还涉及实现该方法的装置。防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能测试方法,其特征在于,先测出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻RS,得出其表面电阻率ρS;然后将表面电阻率ρS代入公式得到屏蔽效能SE。其表面电阻率ρS的测试方法采用圆环法。本发明通过非破坏性方法测试材料的表面电阻率,进而得到屏蔽效能,不需要专门的测试场地,测试设备相对也较廉价,无需昂贵的网络分析仪,大大降低了仪器设备费用;与近场测试相比,测试的不确定度大大减小,测试重复性好。 | ||
搜索关键词: | 电磁辐射 眼镜 屏蔽 效能 测试 方法 实现 装置 | ||
【主权项】:
1、防电磁辐射眼镜电磁屏蔽效能的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)测出所述防电磁辐射眼镜的防电磁辐射涂层的表面电阻RS,得出所述防电磁辐射涂层的表面电阻率ρs;2)将步骤1)中所得到的表面电阻率,代入以下公式得到屏蔽效能SE式中Zo为空间波阻抗,其值为377Ω。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海翰纳森制衣有限公司,未经上海翰纳森制衣有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710047646.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于FPGA的雷达系统接口卡
- 下一篇:一种高压输电线路工频参数测量装置