[发明专利]一种检测锁相环假锁的方法有效
申请号: | 200710074684.X | 申请日: | 2007-06-01 |
公开(公告)号: | CN101140308A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 吴安军 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市永杰专利商标事务所 | 代理人: | 曹建军 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种检测锁相环假锁的方法,包括以下步骤:a.初始化锁相环芯片用到的I/O管脚;b.给锁相环寄存器配置失锁的数据,使得锁相环处于失锁状态;c.检查锁相环是否处于失锁状态,如果失锁,则表明锁相环正常;如果不失锁,则表明锁相环有故障。采用本发明,可以及时有效地检测出有假锁现象的锁相环芯片,预防假锁导致的故障,提高了系统的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 锁相环假锁 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检测锁相环假锁的方法,其特征在于,包括以下步骤:a、初始化锁相环芯片用到的I/O管脚;b、给锁相环寄存器配置失锁的数据,使得锁相环处于失锁状态;c、检查锁相环是否处于失锁状态,如果失锁,则表明锁相环正常;如果不失锁,则表明锁相环有故障。
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