[发明专利]温度测量装置及其温度校验方法有效
| 申请号： | 200710076831.7 | 申请日： | 2007-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN101377440A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | 祖波;丁会利;周波;徐循进 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/16 | 分类号： | G01K7/16;G01K7/42 |
| 代理公司： | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人： | 陈俊斌 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种温度测量装置及其温度校验方法，温度测量装置包括温度传感器、MCU、存储器，温度传感器与MCU采样端连接；存储器内置于MCU，或外置并与MCU连接；存储器内置有由温度校验方法得到的温度传感器采样模数转换值－温度对应关系曲线；MCU采样温度传感器的压降，得出其采样模数转换值；由采样模数转换值－温度对应关系曲线计算出对应的温度值。由于采样模数转换值－温度对应关系曲线中温度值与基准电压的变化无关，采用本发明后消除了采样的基准电压VCC波动引起的温度误差，使所采集的温度的精度提高了10％左右，提高了测量结果的准确性、稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测量 装置 及其 校验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种温度测量装置，包括温度传感器、MCU、存储器，所述温度传感器与所述MCU采样端连接；所述存储器内置于所述MCU，或外置并与所述MCU连接；其特征是：所述存储器内置有温度传感器采样模数转换值-温度对应关系曲线；所述MCU采样温度传感器的压降，得出其采样模数转换值；由所述采样模数转换值-温度对应关系曲线计算出对应的温度值。
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