[发明专利]减少存储元件间耦合效应的非易失性存储设备和相关方法有效

专利信息
申请号: 200710100908.X 申请日: 2007-04-28
公开(公告)号: CN101154445A 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 朴起台;金奇南;李永宅 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C16/02 分类号: G11C16/02;G11C16/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 钱大勇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种非易失性半导体存储设备,包括第一和第二子存储器阵列和被安排在第一和第二子存储器阵列之间的母线。所述第一子存储器阵列的编程操作,通过同时施加编程电压到与所述第一子存储器阵列中的存储单元相连接的奇数和偶数位线而进行。
搜索关键词: 减少 存储 元件 耦合 效应 非易失性 设备 相关 方法
【主权项】:
1.一种操作非易失性存储设备的方法,其中,所述非易失性存储设备包括存储器阵列,所述存储器阵列包括第一子存储器阵列、第二子存储器阵列、和母线,所述第一子存储器阵列包括多个单元串和分别地连接于所述多个单元串的多个偶数和奇数位线,所述第二子存储器阵列包括多个单元串和分别地连接于所述多个单元串的多个偶数和奇数位线,所述母线在所述第一子存储器阵列和所述第二子存储器阵列之间沿列方向延伸,所述方法包括:接收要被编程的页数据;以及把与所述页数据相对应的位线电压同时施加到所述第一子存储器阵列中的多个偶数和奇数位线,以在所述第一子存储器阵列中的多个单元串中,对所述页数据进行编程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710100908.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top