[发明专利]测试方法及其装置无效
| 申请号： | 200710102834.3 | 申请日： | 2007-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN101303389A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | 郑钧元;叶国文 | 申请（专利权）人： | 纬创资通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陈小雯;李晓舒 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种测试方法及其装置，应用于一电路板的ICT(In－Circuit Test)测试，电路板包括至少一待测电子零件，待测电子零件两侧各别以一焊垫与电路板相连接，且待测电子零件与焊垫之间是以一焊锡焊接固定。测试方法包括以下步骤：将电路板放置于一待测位置；提供至少一组探针；移动各组探针的位置并定位于待测电子零件上；将各组探针分别接触各焊垫或焊锡以取得测试讯号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测试方法，应用于一电路板的ICT(in-circuit test)测试，该电路板包括至少一待测电子零件，该待测电子零件两侧各别以一焊垫与该电路板相连接，且该待测电子零件与该焊垫之间是以一焊锡焊接固定；该测试方法包括以下步骤：(a)将该电路板放置于一待测位置；(b)提供至少一组探针；(c)移动各该组探针的位置并定位于该待测电子零件上；以及(d)将各该组探针分别接触各该焊垫或该焊锡以取得测试讯号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纬创资通股份有限公司，未经纬创资通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710102834.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：平板式太阳能发电制热器
- 下一篇：实木地板手擦植物油的工艺
