[发明专利]可缩小布局面积的半导体存储器件有效

专利信息
申请号: 200710102904.5 申请日: 2007-05-11
公开(公告)号: CN101071814A 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 石井雄一郎 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L23/522
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 浦柏明;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在第1金属布线层上设置供给N阱电压(VDDB)的金属(312)。金属(312)通过共有接触(216和219)与设置在N阱区内的有源层(300)进行电耦合,对N阱区供给N阱电压(VDDB)。在第3金属布线层上设置供给P阱电压(VSSB)的金属(332、333)。供给N阱电压(VDDB)的金属(312)因形成使用了第1金属布线层的金属的结构,故无需向下层的打基础区域,只要确保P阱电压(VSSB)的金属(332、333)的向下层的打基础区域即可。因此,可缩小供电单元(PMC)的Y方向的长度,并可缩小供电单元的布局面积。
搜索关键词: 缩小 布局 面积 半导体 存储 器件
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,其中,具备具有多个存储单元和多个供电单元的存储器阵列,其中,上述多个存储单元被配置成矩阵状,并且每个都包括:第2导电类型的1对负载晶体管,形成在第1导电类型的第1阱区;以及第1导电类型的1对驱动晶体管,形成在第2导电类型的第2阱区,连接成与上述负载晶体管构成触发器,上述多个供电单元的每个与存储单元列对应地设置,构成用于对上述第1和第2阱区供电而设置的行,上述第1和第2阱区在列方向延伸,在行方向交替配设,该半导体存储器件还具备:第1电源线,沿行方向与上述多个供电单元对应地设置,与上述供电单元电耦合,用于对上述第1阱区供给第1电源电压;以及第2电源线,沿行方向与上述多个供电单元对应地设置,与上述供电单元电耦合,用于对上述第2阱区供给第2电源电压,上述第1电源线经设置在与第1金属布线层之间的接触,与上述第1阱区电耦合,上述第2电源线在上述第1金属布线层的上层形成,经分别设置在与各金属布线层之间的多个接触,与上述第2阱区电耦合。
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