[发明专利]半导体存储器及其测试方法

摘要

一种半导体存储器及其测试方法，其中在测试时在多个CR中设置任意操作模式信息，从而测试成本降低。多个CR保存操作模式信息。在CR控制电路以预定顺序检测到写入命令或读取命令时，CR控制电路以时分方式更新每个所述多个CR的操作模式信息。命令生成部响应于来自外部的控制信号，生成写入命令、读取命令、或者不出现写入操作或读取操作的测试开始命令。此外，命令生成部在多个CR每次更新时再次生成测试开始命令。数据板压缩电路根据代码将输入至部分数据板的测试数据反相后的数据或其原始状态用作其余数据板的数据，从而改变将被写入至多个CR的操作模式信息，所述代码由在发送测试开始命令时输入的部分地址表示。

主权项

1、一种半导体存储器，其操作模式可从外部设置，该存储器包括：多个寄存器，用于为该半导体存储器保存操作模式信息；寄存器控制电路，用于在以预定顺序检测到写入命令或读取命令时，以时分方式为所述多个寄存器中的每一个的更新操作模式信息，所述写入命令用以向寄存器的存取地址进行写入，所述读取命令用以从寄存器的存取地址进行读取；命令生成部，用于响应于从外部输入的控制信号，生成所述写入命令、所述读取命令、或者不出现写入操作或读取操作的测试开始命令，以及用于在所述多个寄存器每次更新时再次生成该测试开始命令；以及数据板压缩电路，用于根据代码将输入至部分数据板的测试数据反相后的数据或其原始状态用作其余数据板的数据，改变将被写入至所述多个寄存器的操作模式信息，所述代码由在发送该测试开始命令时输入的部分地址表示。