[发明专利]反射式背光源检测方法及其结构无效
| 申请号： | 200710108438.1 | 申请日： | 2007-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN101324536A | 公开（公告）日： | 2008-12-17 |
| 发明（设计）人： | 叶公旭;黄嘉兴 | 申请（专利权）人： | 东捷科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01N21/956;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明一种反射式背光源检测方法，包含下列各步骤：提供一透光待测物以及一反光板，反光板是位于透光待测物底侧；提供一环型光纤以及一光源，环型光纤是可位移地位于透光待测物顶侧，且未接触透光待测物，光源可对环型光纤进行投射；当光源投射于环型光纤，会形成多条入射光，各入射光会自环型光纤穿经透光待测物，再经由反光板形成多条反射光；提供一检测镜头，是透过该反射光对透光待测物进行检测，以检知透光待测物的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 背光源 检测 方法 及其 结构 | ||
【主权项】：
1.一种反射式背光源检测方法，其特征在于包含下列各步骤：a)提供一透光待测物以及一反光板，该反光板是位于该透光待测物底侧；b)提供一环型光纤以及一光源，该环型光纤是可位移地位于该透光待测物顶侧，且未接触该透光待测物，该光源对该环型光纤进行投射；c)当该光源投射于该环型光纤，会形成多条入射光，各该入射光会自该环型光纤穿经该透光待测物，再经由该反光板形成多条反射光；以及d)提供一检测镜头，是透过该反射光对该透光待测物进行检测，以检知该透光待测物的品质。
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