[发明专利]存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法有效
申请号: | 200710118971.6 | 申请日: | 2007-06-15 |
公开(公告)号: | CN101079324A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
发明(设计)人: | 张少林;王少勇;李敏秋;饶兴;龚颜;陶林;石磊;杨剑;陈宣 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C29/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法。本发明实施例的存储设备寿命监控装置包括:擦写次数获得模块,正常块比例阈值模块,擦写次数提取模块及寿命指标获得模块。本发明实施例的存储设备寿命监控方法包括如下步骤:获得存储设备各擦写块的已擦写次数;根据正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数;根据所述数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。在寿命指标达到寿命阈值时,输出告警信息。本发明实施例根据正常块比例阈值提取多个擦写块的已擦写次数,并根据多个已擦写次数获得存储设备的寿命,实现了对存储设备整体寿命的监控。 | ||
搜索关键词: | 存储 设备 寿命 监控 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述存储设备寿命监控装置包括:擦写次数获得模块,用于获得存储设备各擦写块的已擦写次数;正常块比例阈值模块,用于存储正常块比例阈值,所述正常块比例阈值为当所述存储设备能够正常使用时,所述存储设备中正常擦写块个数与擦写块总数的比值的最小值;擦写次数提取模块,用于根据所述正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个所述已擦写次数;寿命指标获得模块,用于根据提取出的数个所述已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。
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