[发明专利]存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法有效

专利信息
申请号: 200710118971.6 申请日: 2007-06-15
公开(公告)号: CN101079324A 公开(公告)日: 2007-11-28
发明(设计)人: 张少林;王少勇;李敏秋;饶兴;龚颜;陶林;石磊;杨剑;陈宣 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G11C16/10 分类号: G11C16/10;G11C29/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 刘芳
地址: 518129广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及存储设备、存储设备寿命监控装置及监控方法。本发明实施例的存储设备寿命监控装置包括:擦写次数获得模块,正常块比例阈值模块,擦写次数提取模块及寿命指标获得模块。本发明实施例的存储设备寿命监控方法包括如下步骤:获得存储设备各擦写块的已擦写次数;根据正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个已擦写次数;根据所述数个已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。在寿命指标达到寿命阈值时,输出告警信息。本发明实施例根据正常块比例阈值提取多个擦写块的已擦写次数,并根据多个已擦写次数获得存储设备的寿命,实现了对存储设备整体寿命的监控。
搜索关键词: 存储 设备 寿命 监控 装置 方法
【主权项】:
1、一种存储设备寿命监控装置,其特征在于,所述存储设备寿命监控装置包括:擦写次数获得模块,用于获得存储设备各擦写块的已擦写次数;正常块比例阈值模块,用于存储正常块比例阈值,所述正常块比例阈值为当所述存储设备能够正常使用时,所述存储设备中正常擦写块个数与擦写块总数的比值的最小值;擦写次数提取模块,用于根据所述正常块比例阈值,按照各已擦写次数数值的大小提取数个所述已擦写次数;寿命指标获得模块,用于根据提取出的数个所述已擦写次数获得表征所述存储设备寿命状况的寿命指标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710118971.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top