[发明专利]用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法有效

专利信息
申请号: 200710119300.1 申请日: 2007-07-19
公开(公告)号: CN101349646A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 王新业;郅富国;许丽娟;严素荣 申请(专利权)人: 北京有色金属与稀土应用研究所
主分类号: G01N21/66 分类号: G01N21/66;G01N1/34
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人: 朱丽华
地址: 100012北京市朝阳区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法,方法如下:称取一个单位的试样于烧杯中加入王水溶解,溶解后补加盐酸去离子水定容到刻度;分取试样溶液于两支以上的比色管中各15ml,依次成倍数关系加入各元素混合的金标准溶液,用去离子水定容;开启等离子体原子发射光谱仪,开启循环水泵,打开分析控制软件,进入“标准加入法”控制程序,在谱线库中选择用于测定的谱线,设定曲线浓度值,全波段扫描,按低到高浓度顺序将各比色管中的试样溶液依次吸入仪器,每次吸入后时点击测试键得到该点的初始曲线点,对曲线进行确认使其线性系数在0.99以上,输出各待测元素的浓度值结果,根据计算公式求得各待测元素百分含量结果。
搜索关键词: 等离子体 原子 发射 光谱仪 测定 纯金 杂质 方法
【主权项】:
1、一种用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法,其特征在于方法步骤如下:1)预置洁净的测试环境;2)取高纯金试样并清洁试样,干燥待用;3)称取一个单位的样品于200ml石英烧杯中,加入王水,加热低温溶解,待试样完全溶解后转入100ml容量瓶中,补加盐酸,用去离子水定容到刻度,得到试样溶液;4)分取试样溶液于两支以上的25ml比色管中各15ml,依次成倍数关系加入各待测元素混合的金标准溶液,用去离子水定容;得到浓度由低到高的试样溶液;5)将等离子体原子发射光谱仪开机预热半小时,开启循环水泵,打开分析控制软件,设置工作参数,点击“点火”按钮,形成稳定的等离子炬焰;选择进入“标准加入法”控制程序,在24种待测元素的谱线库中选择用于测定的谱线,输入曲线各点的浓度值,进行全波段扫描,完成光路校正后,设定重复测量次数;6)按由低到高浓度顺序将各比色管中的待测试样溶液依次吸入仪器,每次吸入时点“测试”键,得到各元素的初始曲线点,对各曲线点形成的曲线确认后,点击“结果输出”,即可在数据状态栏得出待测元素的浓度值Cn,根据待测元素百分含量的计算公式求得待测元素百分含量结果。
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