[发明专利]曝光掩模及使用该曝光掩模制造半导体器件的方法无效
申请号: | 200710130155.7 | 申请日: | 2007-07-20 |
公开(公告)号: | CN101206394A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 郑龙淳 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;G03F1/00;G03F7/00;H01L21/027 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾红霞;张天舒 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开一种用于凹式栅极的曝光掩模,所述曝光掩模包括透明基板和凹式栅极图案。所述凹式栅极图案布置在所述透明基板上方。所述凹式栅极图案包括具有第一线宽的第一部分和具有第二线宽的第二部分,所述第二线宽小于所述第一线宽。在所述第二部分中,所述凹式栅极图案的各元件间隔开。 | ||
搜索关键词: | 曝光 使用 制造 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种曝光掩模,其用于在具有多个有源区的半导体基板上形成凹式栅极,所述曝光掩模包括:透明基板;以及凹式栅极图案,其包括布置在所述透明基板上方的多条栅极线,所述凹式栅极图案还包括具有第一线宽的第一部分和具有第二线宽的第二部分,所述第二线宽小于所述第一线宽,其中,在所述第二部分中,所述凹式栅极图案的相邻元件以距离t间隔开,其中0<t<1/5F,F是两条相邻栅极线之间的距离。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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