[发明专利]智能卡以及测试智能卡的方法有效
| 申请号： | 200710138236.1 | 申请日： | 2007-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN101165710A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 李承源 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06K19/00 | 分类号： | G06K19/00;G06K7/00;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;邸万奎 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种智能卡，包括非易失性存储器、CPU以及多个焊盘。非易失性存储器存储测试程序。从复位状态释放CPU，以响应测试使能信号。CPU基于预定的标志信息，执行存储在非易失性存储器中的测试程序，并且将测试程序的结果存储在非易失性存储器中。 | ||
| 搜索关键词： | 智能卡 以及 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种智能卡，包括：非易失性存储器，其存储测试程序；以及中央处理单元CPU，其中，从复位状态释放CPU以响应测试使能信号，CPU基于预定的标志信息，执行存储在非易失性存储器中的测试程序，并且CPU将测试程序的结果存储在非易失性存储器中。
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