[发明专利]用于分析测试元件上样品的方法以及分析系统有效
| 申请号： | 200710148716.6 | 申请日： | 2007-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN101178399A | 公开（公告）日： | 2008-05-14 |
| 发明（设计）人： | B·斯滕坎普;G·施梅尔泽森－雷德克;W·施米德;D·梅内克;K·迪科普夫;G·阿尔布雷克特;A·门克;B·柯恩;W·施沃贝尔;J·舒拉特;S·卡尔弗拉姆 | 申请（专利权）人： | 霍夫曼－拉罗奇有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/50 | 分类号： | G01N33/50;G01N35/02;G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 彭武;赵辛 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及对分析系统中测试元件上的样品进行分析的方法，包括监控测试元件的分析区域是否在测试元件容器中相对分析单元被定位在分析位置，监控包括以下步骤：利用来自至少一个光源的光照射分析区域，通过检测器对在分析区域处被散射或反射的光进行检测以获得检测信号，并且通过评估单元对检测信号进行评估。通过具有阻光区域的分界元件对布置在测试元件与检测器之间的透光区域进行分界，分界元件相对光源以及检测器定位使得测试元件容器中在Z方向上被布置在错误位置的分析测试元件区域处散射或反射的光撞击在阻光区域上而不能到达检测器，并且通过将检测信号与至少一个预定限制值进行比较以在未达到限制值时辨识出在Z方向上的错误位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 测试 元件 样品 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于对包括测试元件容器(13)及分析单元(10)的分析系统(9)中的测试元件(1)上的样品进行分析的方法，包括监控所述测试元件(1)的分析区域(2)是否在所述测试元件容器(13)中相对于所述分析单元(10)被定位在分析位置，所述监控包括以下步骤：利用来自至少一个光源(11，17)的光照射所述分析区域(2)，通过检测器(12)对在所述分析区域(2)处被散射或反射的光进行检测以获得检测信号，并且通过评估单元对所述检测信号进行评估，其特征在于，通过具有阻光区域(16)的分界元件(15)来对布置在所述测试元件(1)与所述检测器(12)之间的透光区域(14)进行分界，所述分界元件(15)相对于所述光源(11，17)以及所述检测器(12)定位以使得在所述测试元件容器(13)中在Z方向上被布置在错误位置的所述测试元件(1)分析区域(22)处散射或反射的光基本上撞击在所述阻光区域(16)上而不能到达所述检测器(12)，并且通过将所述检测信号与至少一个预定限制值进行比较以在未达到所述限制值时辨识出在Z方向上的错误位置。
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