[发明专利]一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统无效
| 申请号： | 200710152454.0 | 申请日： | 2007-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN101408520A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 简宏达;宋新岳;管继正;罗文期;林思延 | 申请（专利权）人： | 中茂电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 518054广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明为一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统，其步骤包括将具有多层结构的一待测物体，设置于一承载装置上，并提供待测物体一背光装置；继而提供相对应于承载装置的一影像撷取装置，并对该影像撷取装置进行初始化设定及对其与待测物体进行相对位置校正；再开启背光装置，利用影像撷取装置，取得待测物体至少一总瑕疵影像；然后再对待测物体提供一表面照明装置，进行待测物体的表面照明，并利用影像撷取装置，取得待测物体一表面瑕疵影像；最后通过一计算机解析单元，分析总瑕疵影像及表面瑕疵影像；将总瑕疵影像扣除表面瑕疵影像，所得即为待测物体的内层瑕疵影像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判别 外层 瑕疵 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种判别内外层瑕疵的检测方法，其步骤包括：将具有多层结构的一待测物体，设置于一承载装置上；提供至少一影像撷取装置，相对应于所述的承载装置；开启至少一背光装置，利用所述的影像撷取装置，取得所述的待测物体至少一总瑕疵影像；开启至少一表面照明装置，进行所述的待测物体的表面照明，利用所述的影像撷取装置，取得所述的待测物体至少一表面瑕疵影像；通过一计算机解析单元，分析所述的总瑕疵影像及所述的表面瑕疵影像；以及将所述的总瑕疵影像扣除所述的表面瑕疵影像，所得即为所述的待测物体的内层瑕疵影像。
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