[发明专利]检测与校正缺陷像素的方法及装置无效
| 申请号： | 200710160817.5 | 申请日： | 2007-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN101365050A | 公开（公告）日： | 2009-02-11 |
| 发明（设计）人： | 高长荣 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/14 | 分类号： | H04N5/14;H04N9/64 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测及校正缺陷像素的方法及装置。所述的装置包含有缺陷像素检测单元以及缺陷像素校正单元。缺陷像素检测单元获取检测像素及多个相邻像素，以及当第一条件与第二条件满足时确定此检测像素为缺陷像素，其中缺陷像素位于包含检测像素与相邻像素的n×n区块中心，第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内，第二条件描述为除了检测出的相邻像素之外，其余所有相邻像素的数值小于或大于检测像素的数值。缺陷像素校正单元根据缺陷像素检测单元校正检测像素的一个值。利用本发明可以校正有缺陷的图像，使图像品质更优良。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 校正 缺陷 像素 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测及校正缺陷像素的装置，所述的检测及校正缺陷像素的装置包含：缺陷像素检测单元，获取检测像素以及多个相邻像素，当满足第一条件及第二条件时确定上述检测像素为缺陷像素；及缺陷像素校正单元，校正由上述缺陷像素检测单元确定的上述缺陷像素的数值；其中，上述缺陷像素位于包含上述检测像素及上述多个相邻像素的n×n区块的中心，上述第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内，以及上述第二条件描述为除了上述检测出的相邻像素之外，所有其余的相邻像素的数值小于或大于上述检测像素的数值。
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