[发明专利]晶片自动测试分类机

摘要

本发明是一种晶片自动测试分类机，其是包含设在机台前端的供料匣、收料匣及空匣，所述的供料匣是供承置待测的晶片，收料匣是供承置不同等级完测的晶片，空匣则可接收供料匣处的空料盘或补充收料匣处所需的空料盘，另设在机台后端的测试装置，其是设有测试器及可升降的探针，二可移动在转运区及测试装置间的转运装置，其是交替的将待测晶片移载至测试装置以进行测试，并在完成测试后移载至转运区，一取放装置是将供料匣上待测的晶片取放在二转运装置，并将二转运装置上完测的晶片，依据测试的结果分别取放在不同等级的收料匣；如此，可确保测试品质及有效提升作业便利性及产能的使用效益。

主权项

1. 一种晶片自动测试分类机，其特征在于：包含有：供料匣：是供收纳承置有待测晶片的料盘；收料匣：是依不同等级收纳承置有完测晶片的料盘；测试装置：是设有探针及测试器，以对待测的晶片进行测试作业；转运装置：是可移动在转运区及测试装置间，以将待测晶片移载至测试装置内进行测试作业，并在完成测试后将完测晶片移载至转运区，以供进行分类收料作业；取放装置：是设有取放器，以将供料匣的料盘上待测晶片取放在转运装置，并将转运装置上的完测晶片分类取放在收料匣的料盘上；中央处理器：是用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。