[发明专利]射频微机械串联接触式开关的制作方法无效

专利信息
申请号: 200710176082.5 申请日: 2007-10-19
公开(公告)号: CN101143701A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 刘泽文;胡光伟;刘理天;李志坚 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所 代理人: 廖元秋
地址: 1000*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及射频微机械串联接触式开关的制作方法,属于半导体器件及集成电路制作技术领域,该方法包括:以硅片为衬底,并进行清洗;溅射、电镀、淀积、光刻、刻蚀形成共面波导和下电极;旋涂并固化牺牲层,溅射金属,淀积介质;图形化形成带系列小孔的桥膜开关;侧向钻蚀;释放牺牲层。本方法可以避免介质桥膜的应力集中问题,改善开关的机械可靠性,提高开关的成品率和使用寿命;同时,本方法与CMOS工艺兼容,可望得到广泛应用。
搜索关键词: 射频 微机 串联 接触 开关 制作方法
【主权项】:
1.一种射频微机械串联接触式开关的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)以硅片为衬底,并进行清洗;在硅片正面,通过溅射、电镀、淀积、光刻、刻蚀等表面微机械工艺形成共面波导地线、带凸点的共面波导信号、和表面覆盖绝缘介质层的下电极;(2)在上述绝缘介质层上面旋涂并固化牺牲层后,真空溅射一层金属;(3)直接在金属层上淀积一层介质层,然后图形化介质层和金属层,形成带系列小孔的开关桥膜;(4)在上述图形上旋涂光刻胶4并进行光刻,然后在光刻胶的保护下,用刻金属溶液通过小孔对金属层进行侧向钻蚀,形成中间的接触金属和两侧的上电极,;(5)最后干法释放牺牲层,得到悬浮的开关介质桥结构。
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