[发明专利]一种闪存存储器子卡测试装置及方法有效
申请号: | 200710176428.1 | 申请日: | 2007-10-26 |
公开(公告)号: | CN101145402A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 夏伟年 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张颖玲 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种闪存(FLASH)存储器子卡测试装置及方法,该装置包括:直流(DC)电源、电源监控芯片、单片机、时钟晶振、译码器、驱动器、移位寄存器及状态指示灯电路;该方法包括:插好待测的FLASH存储器子卡,打开DC电源,由电源监控芯片完成上电复位后,通知单片机开始工作,单片机通过译码器及控制总线驱动器对FLASH存储器子卡进行片选,再通过地址总线驱动器、数据总线驱动器对FLASH存储器子卡进行测试,最后通过状态指示灯电路和状态指示灯驱动器显示测试结果,利用本发明,可以一次测试最多八个FLASH存储器子卡,提高FLASH存储器子卡的生产测试效率和测试的有效性。 | ||
搜索关键词: | 一种 闪存 存储器 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种闪存FLASH存储器子卡测试装置,其特征在于,该装置包括:单片机、译码器、驱动器、状态指示灯电路,其中,单片机,用于通过译码器选择当前待测的FLASH存储器子卡,并控制驱动器完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试;译码器,用于选择当前待测的FLASH存储器子卡;驱动器,用于配合单片机完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试;状态指示灯电路,用于提供对FLASH存储器子卡测试过程中的测试状态指示。
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