[发明专利]测试系统有效
| 申请号： | 200710187123.0 | 申请日： | 2007-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN101435853A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;许益彰;黄杰威 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3177;G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种测试系统，用来测试多个待测试元件。该测试系统包括有一测试主机以及多个处理器。测试主机用来提供多个控制信号，并依据该多个待测试元件所产生的多个量测结果，决定该多个待测试元件的测试结果。多个处理器耦接于该测试主机，用以依据该多个控制信号，产生多个测试信号，其中该多个待测试元件依据该多个测试信号，分别产生该多个量测结果。本发明所述的测试系统，可同时测试多个IC，进而大幅提升IC测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 | ||
【主权项】：
1. 一种测试系统，其特征在于，用来测试多个待测试元件，该测试系统包括有：一测试主机，用来提供多个控制信号，并依据该多个待测试元件所产生的多个量测结果，决定该多个待测试元件的测试结果；以及多个处理器，耦接于该测试主机，用以依据该多个控制信号，产生多个测试信号，其中该多个待测试元件依据该多个测试信号，分别产生相应的量测结果；多个量测仪器，每一量测仪器耦接于该多个处理器其中之一以及该多个待测试元件其中之一，用以依据该多个测试信号其中之一，对相应的待测试元件进行量测。
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